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紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统

紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统

更新时间:2021-03-16

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厂商性质:经销商

城市:北京市

简要描述:
ILT 5000 SED005WBS320W 紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统可对紫外光固化、光辐射危害及闪光灯测量等的研究分析。
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域石油,能源

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统

紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统的研究

光学分析的10多个进制单位的动态范围

Pico-ammeter10fA1mA(从100fA1mA校准)

无线通信内置

用户控制或自动:范围、/、采样率

4-20 mA输出

15D SubSMA输入端口

“Set it & Forget It”远程数据记录

电源:USB或内置充电电池组

多系统同时连续监测

包括DataLight II软件和Labview采样代码

NIST可追溯/ISO17025认证校准

采样率高达100 Hz,可编程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统描述:

 

紫外敏感危害探测器设计为在250400 nm的宽紫外波段上具有高灵敏度,用于紫外敏感危害研究

测量

测量范围:2.33e-82.33e+0 W/cm2

光谱范围:250–400 nm

配置ILT5000*SED005/WBS320/W(探

*包括软件

 

应用:该检测器经过特殊配置,可准确测量穿过UV波段的宽部分,用于总UV灵敏度危险监测。

光片和输入光学元件是可拆卸的,可以与探测器组件分开购买,以允许滤光片和输入光学元件互换。

注:配置中不含图片中的平板电脑。

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